晶片承載盤是半導體加工製程的關鍵要素,晶片承載盤的輪廓與定位孔點常因作業造成瑕疵,過去多透過AOI光學檢測方式予以檢查。然而承載盤不易透過AOI檢出並定位瑕疵,嚴重影響良率及生產效率。運用SolVis...
晶片承載盤是半導體加工製程的關鍵要素,晶片承載盤的輪廓與定位孔點常因作業造成瑕疵,過去多透過AOI光學檢測方式予以檢查。然而承載盤不易透過AOI檢出並定位瑕疵,嚴重影響良率及生產效率。運用SolVis...
所羅門利用 SolVision學習Tray盤所需辨識的定位點,執行光學字元辨識 (OCR),能夠大幅優化傳統AOI的作業流程,不受識別畫面位移、歪斜及其字元缺陷等限制,精準識別個別料件來源,而隨著AI...
© Copyright – 2024 SOLOMON TECHNOLOGY CORPORATION All Rights Reserved.
Privacy Policy|Terms and Conditions |Limited Warranty Statement