SolVision cho phép kiểm tra hình ảnh qua phân tích hình ảnh AI, nâng cao độ tin cậy của thông tin về sai lệch và góc để nhận diện sản phẩm lỗi và sai sót trong quy trình dán chíp.
Có nhiều loại khuyết tật có thể xuất hiện khác nhau mỗi lần trên các bộ phận dập, đặc biệt là vết dầu hoặc vết nước, những khuyết tật này không dễ phát hiện.
Được hỗ trợ bởi AI, phần mềm học sâu SolVision huấn luyện mô hình AI bằng cách mô phỏng các khuyết tật tiềm ẩn của hạt hàn trong các điều kiện độ sáng ngẫu nhiên.
SolVision sử dụng công nghệ học sâu để nâng cao hiệu quả kiểm tra khẩu trang phẫu thuật, đảm bảo phát hiện khiếm khuyết chính xác và kiểm soát chất lượng cải thiện.
Mô hình AI có thể được huấn luyện để phát hiện và xác định chính xác các khiếm khuyết trên tấm thạch cao, từ đó nâng cao chất lượng sản phẩm và năng suất sản xuất.
Các wafer bị lỗi cũng thường có các khiếm khuyết tinh tế rải rác ngẫu nhiên trên bề mặt, và điều này ngăn cản các hệ thống AOI thiết lập các quy tắc để kiểm tra hiệu quả.
