SolVision cho phép kiểm tra hình ảnh qua phân tích hình ảnh AI, nâng cao độ tin cậy của thông tin về sai lệch và góc để nhận diện sản phẩm lỗi và sai sót trong quy trình dán chíp.
Các wafer bị lỗi cũng thường có các khiếm khuyết tinh tế rải rác ngẫu nhiên trên bề mặt, và điều này ngăn cản các hệ thống AOI thiết lập các quy tắc để kiểm tra hiệu quả.
Sử dụng Giải Pháp Kiểm Tra AI của SolVision, các khuyết tật nhỏ như vết xước mịn có thể được định vị và đánh dấu trong các hình ảnh mẫu để huấn luyện mô hình AI.
Khám phá cách META-aivi tối ưu hóa quản lý chất thải với AI, giảm thiểu lỗi và ngăn ngừa lẫn tạp chất, đồng thời nâng cao hiệu quả tái chế linh kiện nhựa.