SolVision

  • KI-gestützte visuelle Identifikation und Klassifizierung von Zellen

    Setzen Sie das fortschrittliche KI-Modell von SolVision ein, um Zellen zu identifizieren und zu klassifizieren, wo traditionelle AOI-Systeme bei der Erkennung und Bestimmung von Zellvariationen unzureichend sind.

  • person holding tool during daytime

    Visuelle Inspektion von Schweißnähten in der Automobilbranche

    Angetrieben von KI trainiert die Deep-Learning-Software von SolVision ein KI-Modell, indem sie potenzielle Schweißnahtfehler unter zufälligen Helligkeitsbedingungen simuliert.

  • multicolored electronic part

    KI-Inspektion von Netzteilkabeln

    Das KI-Modell kann Fehler in Kabelverbindungen genau identifizieren und minderwertige Produkte in Echtzeit ausschließen.

  • pile of blue surgical masks

    Inspektion von chirurgischen Masken mit KI

    SolVision nutzt Deep-Learning-Technologie für eine verbesserte Inspektion von chirurgischen Masken, um eine genaue Fehlererkennung und eine verbesserte Qualitätskontrolle zu gewährleisten.

  • KI-gestützte visuelle Inspektion von Trockenbauplatten

    Das KI-Modell kann trainiert werden, um Defekte auf der Trockenbauplatte genau zu erkennen und zu lokalisieren, um die Produktqualität und den Produktionsertrag zu verbessern.

  • a group of square objects

    Automatisierung von Halbleiter-Wafer-Inspektionen

    Fehlerhafte Wafer weisen in der Regel auch subtile Defekte auf, die zufällig auf der Oberfläche verteilt sind, was es AOI-Systemen (Automated Optical Inspection) erschwert, Regeln für effiziente Inspektionen festzulegen.

  • a close-up of a machine

    Fehlererkennung bei Laser-Schweißen mit KI

    SolVision überwinde die Herausforderungen bei der Inspektion von Laser-Schweißarbeiten mit KI und ermöglicht eine präzise Fehlererkennung zur Verbesserung der Schweißqualitätskontrolle.

  • KI-Inspektionen für Multilayer-Keramikkondensatoren (MLCC)

    SolVision detects defective electrodes on passive electronic components to significantly improve overall production yield.

  • Erkennung von Haftungsfehlern in Halbleitern

    Übermäßiger Kleber kann auf dem Chip verbleiben oder auf die Leiterplatte überlaufen und dazu führen, dass der Chip kippt, was die Stabilität des gesamten Halbleiterpakets beeinträchtigt.