제품
산업 자동화 솔루션
SolVision
AI 비전 시스템
AccuPick LM
기계 관리 및 자재 취급
SolMotion
비전 유도 로봇
확장 지능 솔루션
META-aivi
AR + AI 비전 시스템
응용 프로그램
로봇 솔루션
3D 매칭
연마
빈 피킹
키팅
디팔레타이징
픽 앤 플레이스
디래킹
비전 유도 로봇
비로봇 솔루션
분류
존재/부재 검사
계수
품질/안전 검사
결함 감지
원격 모니터링
광학 문자 인식 (OCR)
표준 작업 절차 검증
산업별 솔루션
항공우주 및 방위 산업
자동차
건설업
전자
식음료
물류
제조업
금속 가공
광전자
제약 및 의료
공공 서비스
반도체
스마트 제조
섬유 및 신발
석유화학, 플라스틱, 고무
에너지 및 재생 에너지
자료실
Case Studies
Blog
Product Brochures
회사 소개
회사
뉴스 및 이벤트
고객 후기
문의하기
한국어
English
繁體中文
简体中文
日本語
Español
Português
Deutsch
Français
Italiano
Türkçe
Tiếng Việt
한국어
ไทย
Choose a language
English
繁體中文
简体中文
日本語
Español
Português
Deutsch
Français
Italiano
Türkçe
Tiếng Việt
한국어
ไทย
搜尋
SolVision
AI를 활용한 사출 성형 고무 검사
SolVision은 AI를 활용하여 사출 성형 고무 검사를 향상시키고, 정밀한 결함 탐지 및 개선된 품질 관리를 제공합니다.
Case Studies
Defect Detection
Petrochemicals
Plastics
and Rubber
Quality/Safety Inspection
SolVision
반도체 트레이의 시각적 검사
Solomon SolVision의 특성 인식 도구는 먼저 트레이의 위치를 학습한 후, AOI 시스템보다 더 유연하게 OCR을 수행합니다.
Case Studies
Optical Character Recognition
Semiconductors
SolVision
AI를 활용한 가공식품 검사
SolVision은 AI 비전 정밀도를 활용하여 가공식품 검사에서 생산 효율성, 위생 및 품질 보증을 향상시켜 식품 생산의 혁신을 이끌고 있습니다.
Case Studies
Defect Detection
Food and Beverage
Quality/Safety Inspection
SolVision
AI를 활용한 금속 케이스 품질 검사
SolVision은 결함 감지 및 분류가 가능한 AI를 통해 전자 제품의 품질 관리를 향상시키며, 금속 케이스의 품질 검사를 강화합니다.
Case Studies
Classification
Defect Detection
Electronics
Metal Processing
Quality/Safety Inspection
SolVision
AI를 활용한 가스 게이지 디지털화
SolVision은 AI 및 OCR 기술을 활용하여 가스 게이지를 디지털화함으로써 광전자 및 가스 모니터링 프로세스에서 효율성, 정확성 및 대응 속도를 향상시킵니다.
Case Studies
Optical Character Recognition
Optoelectronics
SolVision
블리스터 팩 검사 AI 활용
SolVision은 제약 생산에서 반사 소재 문제를 해결하여 정확성과 효율성을 향상시키는 AI 기반의 블리스터 포장 검사를 혁신합니다.
Case Studies
Defect Detection
Pharmaceuticals and Medical
Presence/Absence
SolVision
AI를 활용한 채소 분류
SolVision은 아티초크 검사를 50밀리초 만에 100% 정확도로 수행하여 채소 생산에서 AI를 활용한 효율성 및 분류를 향상시킵니다.
Case Studies
Classification
Food and Beverage
SolVision
AI를 활용한 IC 트레이 검사
SolVision은 AI를 활용하여 IC 트레이 검사의 정밀도를 높이고, 반도체 산업에서 품질 보증 기준을 향상시킵니다.
Case Studies
Presence/Absence
Quality/Safety Inspection
Semiconductors
SolVision
웨이퍼 다이싱에서의 칩핑 결함 감지
균열의 위치, 크기 및 형태는 매번 다르게 나타나며, 기존의 광학 검사 방식으로는 이러한 예측 불가능한 결함을 정확하게 감지할 수 없습니다.
Case Studies
Defect Detection
Quality/Safety Inspection
Semiconductors
SolVision