Pul kalıplama parçalarında her seferinde farklı şekilde görünebilen birçok türde kusur vardır, özellikle de kolayca tespit edilemeyen yağ veya su lekeleri.
SolVision’ın gelişmiş Yapay Zeka modelini, geleneksel AOI sistemlerinin hücre varyasyonlarını tespit etme ve belirlemede yetersiz kaldığı durumlarda hücreleri tanımlamak ve sınıflandırmak için kullanın.
Hatalı wafer’lar genellikle yüzeyde rastgele dağılmış ince hatalara sahip olup, bu durum AOI (Otomatik Optik Denetim) sistemlerinin verimli denetimler için kurallar koymasını engeller.
Küçük, spiral yüzeyli metal parçalar, SolVision’un Instance Segmentation aracı kullanılarak kesik izleri veya çarpışma kusurlarının farklı türlerini örnek görüntülerden öğrenebilir ve ardından bu ince kusurları tanıyacak bir AI modeli oluşturulabilir.