Semiconductors

  • leftover plastic parts from plastic injection molding machine

    Vérification des pièces en plastique destinées au recyclage grâce à l’IA

    Découvrez comment META-aivi optimise la gestion des déchets grâce à l’IA, réduisant les erreurs et évitant la contamination tout en améliorant l’efficacité du recyclage des pièces en plastique.

  • Gestion intelligente des installations à distance

    La vision par ordinateur est utilisée pour effectuer la reconnaissance optique de caractères (OCR). Ces informations sont envoyées vers le cloud afin de générer un rapport d’inspection, permettant aux opérateurs d’usine de surveiller facilement l’inspection des installations via des appareils mobiles.

  • black and white labeled box

    Solution d’inspection par IA pour les wafers semi-conducteurs

    En utilisant la solution d’inspection par IA de SolVision, des défauts minimes tels que de fines rayures peuvent être localisés et marqués sur des images d’échantillons pour entraîner le modèle d’IA.

  • Contrôle de qualité du découpage des wafers

    En utilisant l’outil de segmentation d’instances de SolVision, les lignes irrégulières et les défauts de perçage multiple sont étiquetés dans des images d’échantillon pour entraîner le modèle d’IA.

  • Détection de courts-circuits dans le soudage SMT

    Le SMT est un processus de soudage essentiel dans l’industrie électronique. SolVision détecte les défauts sur les PCB, connus pour leurs nombreux composants petits et complexes.

  • a group of square objects

    Automatiser les inspections des wafers de semi-conducteurs

    Les wafers défectueux présentent souvent des défauts subtils dispersés aléatoirement sur la surface, ce qui empêche les systèmes d’inspection automatique (AOI) de définir des règles pour des inspections efficaces.

  • Détection des défauts d’adhérence dans les semi-conducteurs

    Ein übermäßiger Kleber kann auf dem Chip verbleiben oder auf die Leiterplatte überlaufen und dazu führen, dass der Chip kippt, was die Stabilität des gesamten Halbleiterpakets beeinträchtigt.

  • black and white labeled box

    Automatisierung der Qualitätsinspektion von Trägerschalen

    À mesure que la fabrication de semi-conducteurs devient plus sophistiquée, le processus de création des cadres de connexion doit s’améliorer en précision et en rendement.

  • Central Processor Of A Computer

    Inspecter les processus d’emballage des semi-conducteurs

    SolVision permet l’inspection visuelle grâce à l’analyse d’images par IA, renforçant la fiabilité des informations de déplacement et d’angle pour reconnaître les produits défectueux et les erreurs dans le processus de collage des dies.