a close up of a pattern of small squares

SolVisionCaso di Studio

Ispezione di Vassoi per Circuiti Integrati (IC) con l’AI

Caso

Garantire la Qualità nella Movimentazione dei Vassoi IC

Dopo i processi di ispezione e separazione, i chip vengono trasferiti nei compartimenti designati all’interno dei vassoi IC. Questi vassoi mantengono i chip in posizione fino alla spedizione finale al cliente. Tuttavia, le dimensioni ridotte e il peso leggero dei chip li rendono soggetti a duplicazioni, spostamenti, inclinazioni o inversioni durante la movimentazione nei vassoi.

Interface of SolVision AI vision system software inspection IC tray. Incorrectly placed ICs are highlighted in red.

Sfida

Affrontare Scenari di Posizionamento Imprevedibili

Il problema dei chip semiconduttori mancanti o posizionati in modo errato comporta un’ampia gamma di variazioni nel posizionamento, che può differire per posizione, angolazione e orientamento. I sistemi tradizionali basati su regole faticano a identificare e classificare efficacemente tutti i tipi di difetti di posizionamento, a causa della complessità e variabilità coinvolte.

Soluzione

Utilizzo dell’AI per l’Ispezione dei Vassoi IC

Lo strumento di segmentazione di SolVision impiega l’elaborazione delle immagini con AI per analizzare i diversi scenari di posizionamento dei chip nei vassoi IC. Attraverso un addestramento rapido, il modello AI identifica con precisione le deviazioni nel posizionamento dei chip, consentendo un riconoscimento e una localizzazione accurata dei chip posizionati in modo anomalo con un’efficienza eccezionale.

Ispezione AI

Results of IC tray inspection using AI, showing correctly placed ICs (highlighted green) and incorrectly placed ICs (highlighted yellow and orange)

OK = Posizionamento corretto

NG Stack2 = Posizionamento errato (2 chip sovrapposti)

NG Stack3 = Posizionamento errato (3 chip sovrapposti)

Risultato

Miglioramento della garanzia di qualità grazie a standard più elevati nel posizionamento dei chip
Maggiore accuratezza nel rilevamento dei chip mal posizionati nei vassoi
Ispezione semplificata di diversi scenari di posizionamento