a close up of a pattern of small squares

SolVisionCaso de Estudo

Inspeção de Bandeja de IC Usando IA

Caso

Garantindo Qualidade no Manuseio de Bandejas de IC

Após os chips passarem pelos processos de inspeção e singulação, eles são transferidos para compartimentos designados dentro das bandejas de IC. Essas bandejas seguram os chips de forma segura até que estejam prontos para o envio final aos clientes. No entanto, o pequeno tamanho e o baixo peso dos chips os tornam propensos à duplicação, deslocamento, inclinação ou inversão durante o manuseio nas bandejas.

Interface of SolVision AI vision system software inspection IC tray. Incorrectly placed ICs are highlighted in red.

Desafio

Abordando Cenários de Posicionamento Imprevisíveis

A questão dos chips de semicondutores ausentes ou mal posicionados apresenta uma ampla variedade de desafios, resultando em inúmeras variações no seu posicionamento—variando em localização, ângulo e orientação. Os sistemas tradicionais baseados em regras têm dificuldade em identificar e categorizar de forma eficaz todos os tipos de posicionamento defeituoso devido à complexidade e variabilidade envolvidas.

Solução

Utilizando IA para Inspeção de Bandejas de IC

A ferramenta de segmentação do SolVision utiliza processamento de imagens por IA para analisar os diversos cenários de posicionamento dos chips nas bandejas de IC. Através de treinamento rápido, o modelo de IA identifica e destaca com precisão as variações no posicionamento dos chips, permitindo o reconhecimento e a localização exatos de chips posicionados de maneira anormal com uma eficiência excepcional.

Inspeção por IA

Results of IC tray inspection using AI, showing correctly placed ICs (highlighted green) and incorrectly placed ICs (highlighted yellow and orange)

OK = Posicionamento Correto

NG Stack2 = Posicionamento Incorreto (2 ICs sobrepostos)

NG Stack3 = Posicionamento Incorreto (3 ICs sobrepostos)

Resultado

Garantia de qualidade aprimorada por meio de padrões mais elevados no posicionamento de chips
Precisão aprimorada na detecção de chips mal posicionados em bandejas de IC
Inspeção simplificada de diversos posicionamentos de chips