pink green and blue square pattern

SolVisionÉtude de cas

Inspection visuelle des plateaux de transport de semi-conducteurs

Détection automatisée des défauts avec intelligence artificielle

Stabilité et positionnement des plateaux de semi-conducteurs

Les plateaux de transport de semi-conducteurs sont indispensables au traitement des semi-conducteurs et se présentent sous différents formats et matériaux en fonction de l’application et de l’environnement. En plus de garantir la sécurité et la stabilité des puces, la position et les points de prélèvement des plateaux doivent correspondre précisément aux mécanismes d’alimentation pendant la production. La qualité du plateau reflète donc le succès de l’automatisation de la production.

Automated defect detection with artificial intelligence

Inspection des arrière-plans complexes et des défauts obscurs

Les contours et les trous de positionnement des plateaux de transport sont sujets à des défauts tels que des éclats et des déformations causés par la température de production et un usage prolongé. Ces plateaux étaient auparavant inspectés à l’aide de méthodes traditionnelles. Cependant, en raison de leurs formats complexes et de la nature obscure et aléatoire des défauts des plateaux, l’utilisation de systèmes de vision basés sur des règles pour les tâches d’inspection visuelle a souvent conduit à des problèmes de rendement et d’efficacité de production.

Surmonter les obstacles des inspections traditionnelles

L’outil de segmentation de SolVision est capable de reconnaître les défauts en les localisant et en les étiquetant, même dans des arrière-plans complexes, afin de surveiller les anomalies de production et de pouvoir éliminer les plateaux défectueux en temps réel.

Inspection par IA

Inspection complète

Original

IC Tray inspection

Résultat

IC Tray inspection

Espaces des trous de positionnement et défauts de cadre

Original

IC Tray inspection

Résultat

IC Tray inspection

Inspection complète

Original

IC Tray inspection

Résultat

IC Tray inspection

Défauts de bord

Original

IC Tray inspection

Résultat

IC Tray inspection