Detección de defectos

  • black and white labeled box

    Solución de inspección de IA para obleas semiconductoras

    Usando la solución de inspección AI de Solvision, se pueden localizar y marcar defectos minúsculos como rasguños finos en imágenes de muestra para entrenar el modelo de IA.

  • Close-up Photography of a Power Tool

    Inspección con IA de piezas metálicas estampadas

    Hay muchos tipos de defectos que pueden aparecer de manera diferente cada vez en las piezas estampadas, en particular manchas de aceite o agua, que no son fácilmente detectables.

  • Detección de cortocircuitos en la soldadura SMT

    SMT es un proceso de soldadura crítico en la industria electrónica. Solvision detecta defectos en las PCB que se sabe que tienen numerosos componentes pequeños y complejos.

  • Inspección de las marcas de certificación de seguridad

    Inspección de Marcas de Certificación de Seguridad. La detección automatizada de marcas de certificación defectuosas por la IA de Solomon Solvision.

  • person holding tool during daytime

    Inspección visual de cordones de soldadura automotrices

    Impulsado por IA, el software de aprendizaje profundo Solvision entrena un modelo de IA simulando posibles defectos en la soldadura en condiciones de brillo aleatorias

  • multicolored electronic part

    Inspección con IA de los cables de la fuente de alimentación

    El modelo de IA F0 puede identificar con precisión errores en las conexiones de cables y eliminar productos de calidad inferior en tiempo real.

  • pile of blue surgical masks

    Inspección de mascarillas quirúrgicas con IA

    SolVision utiliza tecnología de aprendizaje profundo para una inspección mejorada de mascarillas quirúrgicas, asegurando una detección precisa de defectos y un mejor control de calidad.

  • Inspección visual con IA de paneles de yeso

    El modelo de IA puede ser entrenado para detectar y localizar con precisión los defectos en el panel de yeso para mejorar la calidad del producto y el rendimiento de la producción.

  • a group of square objects

    Automatización de las inspecciones de obleas de semiconductores

    Los wafers F0 defectuosos también suelen tener defectos sutiles dispersos aleatoriamente en la superficie, y esto impide que los sistemas de AOI establezcan reglas para inspecciones eficientes.