Semiconduttori
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Scopri come META-aivi ottimizza la gestione dei rifiuti con l’AI, riducendo gli errori e prevenendo la contaminazione, migliorando al contempo l’efficienza del riciclo delle parti plastiche.
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SolVision impiega l’AI per migliorare l’ispezione dei vassoi IC, garantendo un rilevamento preciso e innalzando gli standard di garanzia della qualità nel settore dei semiconduttori.
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Lo strumento di Anomaly Detection utilizza la tecnologia Deep Learning per addestrare il modello AI con immagini campione di wafer “perfetti”.
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La posizione, la dimensione e la forma delle crepe variano ogni volta, e l’ispezione ottica tradizionale non è in grado di identificare con precisione questi difetti imprevedibili.
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Utilizzando la soluzione di ispezione con intelligenza artificiale SolVision, è possibile individuare e marcare difetti minimi, come graffi sottili, su immagini campione per addestrare il modello di intelligenza artificiale.
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Utilizzando lo strumento di segmentazione delle istanze di SolVision, linee irregolari e difetti da foratura multipla vengono etichettati nelle immagini di esempio per addestrare il modello AI.
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La visione artificiale viene utilizzata per eseguire il riconoscimento ottico dei caratteri (OCR). Queste informazioni vengono inviate al cloud per generare un report di ispezione, consentendo agli operatori dell’impianto di monitorare facilmente le ispezioni tramite dispositivi mobili.
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SMT è un processo di saldatura critico nell’industria elettronica. SolVision rileva i difetti sui PCB, che sono noti per avere numerosi piccoli e complessi componenti.
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I wafer difettosi presentano spesso anche imperfezioni sottili distribuite in modo casuale sulla superficie, il che impedisce ai sistemi AOI di impostare regole per un’ispezione efficiente.