Semiconductors

  • a group of square objects

    Wafer Küp Kesiminde Kırılma Kusurlarının Tespiti

    Çatlakların yeri, boyutu ve şekli her seferinde değişir ve geleneksel optik muayene bu tür öngörülemeyen kusurları doğru bir şekilde tespit edemez.

  • Kısa Devrelerin SMT Lehimlemesinde Tespiti

    SMT, elektronik endüstrisinde kritik bir lehimleme sürecidir. SolVision, çok sayıda küçük ve karmaşık bileşene sahip olan PCB’lerdeki hataları tespit eder.

  • a group of square objects

    Yarı İletken Wafer Denetimlerinin Otomasyonu

    Hatalı wafer’lar genellikle yüzeyde rastgele dağılmış ince hatalara sahip olup, bu durum AOI (Otomatik Optik Denetim) sistemlerinin verimli denetimler için kurallar koymasını engeller.

  • Yarı İletkenlerde Yapışma Hatalarının Tespiti

    Aşırı yapıştırıcı, çip üzerinde kalabilir veya devre kartına taşarak çipin eğilmesine neden olabilir ve bu da yarı iletken paketin genel stabilitesini etkiler.

  • black and white labeled box

    Lehim Çerçevelerinin Kalite Denetiminin Otomatikleştirilmesi

    Yarı iletken üretimi daha sofistike hale geldikçe, lehim çerçevelerinin üretim süreci doğruluk ve verimlilik açısından geliştirilmelidir.

  • Central Processor Of A Computer

    Yarı İletken Paketleme Süreçlerinin Muayenesi

    SolVision, AI görüntü analizi sayesinde görsel muayeneyi mümkün kılar ve die bonding sürecindeki hatalı ürünleri ve kusurları tespit etmek için yer değiştirme ve açı bilgilerinin güvenilirliğini artırır.

  • leftover plastic parts from plastic injection molding machine

    Yapay Zeka Kullanarak Geri Dönüşüm İçin Plastik Parçaların Doğrulanması

    META-aivi’nin yapay zeka ile atık yönetimini nasıl optimize ettiğini keşfedin; hataları azaltarak kirlenmeyi önlerken plastik geri dönüşüm sürecinin verimliliğini artırır.