Produktfallstudien

  • black and white labeled box

    KI-Inspektionslösung für Halbleiterwafer

    Durch die Verwendung von SolVision’s KI-Inspektionslösung können winzige Defekte wie feine Kratzer in Musterbildern lokalisiert und markiert werden, um das KI-Modell zu trainieren.
  • Qualitätskontrolle beim Wafer-Dicing

    Mit dem Instanzsegmentierungswerkzeug von SolVision werden unregelmäßige Linien und Mehrbohrungsfehler in Musterbildern gekennzeichnet, um das KI-Modell zu trainieren.
  • PCB-Inspektion mit KI

    SolVision verbessert die Effizienz und Genauigkeit der PCB-Inspektion, indem defekte PCB-Komponenten in Echtzeit mithilfe von KI-Visionsystemen und fortschrittlicher Bildverarbeitung identifiziert werden.
  • Metal gaskets for pipelines. Abstract industrial background toned in blue.

    Fehlererkennung bei Metalldichtungen mit KI

    SolVision KI verbessert die Fehlererkennung bei Metalldichtungen, steigert die Inspektionseffizienz und sorgt für eine hohe Qualität der Dichtungsleistung.
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