META-aiviVaka Çalışması
Elektronik Bileşenleri Lehimleme Denetimi Kullanarak Yapay Zeka
Müşteri
Müşteri, optoelektronik alanında faaliyet gösteren ve optik lazer ile dedektör bileşenleri üreten ABD merkezli bir şirkettir.
Durum
Elektronik Bileşenlerinin Denetimini Optimize Etme
Müşteri, özellikle alıcı-verici modülü üretim hattında, elektronik bileşenlerinin denetim sürecini iyileştirmeyi hedefledi. Lehimleme denetimi için, lehimleme işlemi sonrası dijital mikroskop kullanarak manuel görsel onay alıyorlar ve tamamlanmayı sağlamak için beş lehim noktasına odaklanıyorlar.
Zorluk
Küçük Ölçekli Elektronik Bileşenlerinin Manuel Denetimi
Ana zorluk, manuel denetim sürecinin insan hatası ve yorgunluktan kaynaklanan tutarsız denetim kalitesidir. Mikroskop kullanıyor olmalarına rağmen, bazıları sadece 3 mm olan ve hatta daha küçük olan lehim noktalarının bulunduğu elektronik bileşenlerin küçük boyutu, görünürlük sorunlarını daha da artırıyor. Bu sınırlama, denetimi karmaşıklaştırıyor ve gözden kaçırma riskini yükseltiyor.
Çözüm
META-aivi ile Hassas Denetim
META-aivi, AR + yapay zeka özellikleriyle denetim süreçlerini geliştiriyor. META-aivi’yi dijital mikroskoplarla entegre ederek, lehim noktası tamamlanmasını tespit etmek için kapsamlı bir akıllı çözüm elde ediliyor. META-aivi’nin ileri düzey yapay zeka görüntü teknolojisi, mikro ölçeklerde bile lehim noktalarını doğru bir şekilde analiz eder. Bu yapay zeka entegrasyonu, denetim sürecini hızlandırarak verimlilik ve doğruluğu artırırken manuel denetim yöntemlerine olan bağımlılığı azaltır.