SolVision’ın gelişmiş Yapay Zeka modelini, geleneksel AOI sistemlerinin hücre varyasyonlarını tespit etme ve belirlemede yetersiz kaldığı durumlarda hücreleri tanımlamak ve sınıflandırmak için kullanın.
AI destekli SolVision derin öğrenme yazılımı, rastgele parlaklık koşullarında potansiyel kaynak dikişi kusurlarını simüle ederek bir AI modelini eğitir.
Yapay zeka modeli, alçıpan üzerindeki hataları doğru bir şekilde tespit etmek ve konumlarını belirlemek için eğitilebilir, böylece ürün kalitesini ve üretim verimliliğini artırır.
Hatalı wafer’lar genellikle yüzeyde rastgele dağılmış ince hatalara sahip olup, bu durum AOI (Otomatik Optik Denetim) sistemlerinin verimli denetimler için kurallar koymasını engeller.