a close up of a pattern of small squares

SolVisionEstudio de casos

Inspección de bandejas IC mediante IA

Caso

Garantizar la calidad en el manejo de bandejas IC

Después de que los chips se someten a los procesos de inspección y singulación, se transfieren a compartimentos designados dentro de las bandejas de circuitos integrados. Estas bandejas sujetan de forma segura los chips hasta que estén listos para el envío final a los clientes. Sin embargo, el pequeño tamaño y el peso ligero de las virutas las hacen propensas a la duplicación, el extravío, la inclinación o la inversión durante la manipulación dentro de las bandejas.

Interface of SolVision AI vision system software inspection IC tray. Incorrectly placed ICs are highlighted in red.

Desafiar

Abordar escenarios de ubicación impredecibles

El problema de los chips semiconductores faltantes o mal colocados presenta una amplia gama de desafíos, lo que resulta en numerosas variaciones en su ubicación, que varían en ubicación, ángulo y orientación. Los sistemas tradicionales basados en reglas tienen dificultades para identificar y categorizar de manera efectiva todo tipo de ubicaciones defectuosas debido a la gran complejidad y variabilidad involucradas.

Solución

Utilización de la IA para la inspección de bandejas IC

La herramienta de segmentación de SolVision emplea el procesamiento de imágenes de IA para analizar los diversos escenarios de colocación de chips en bandejas de circuitos integrados. A través de un entrenamiento rápido, el modelo de IA identifica y resalta con precisión las desviaciones en la colocación de los chips, lo que permite el reconocimiento y la localización precisos de los chips colocados de forma anormal con Eficiencia excepcional.

Inspección de IA

Results of IC tray inspection using AI, showing correctly placed ICs (highlighted green) and incorrectly placed ICs (highlighted yellow and orange)

OK = Colocación correcta

NG Stack2 = Ubicación incorrecta (2 circuitos integrados superpuestos)

NG Stack3 = Ubicación incorrecta (3 circuitos integrados superpuestos)

Resultado

Garantía de calidad mejorada a través de estándares más altos en la colocación de chips
Precisión de detección mejorada para chips mal colocados en bandejas de circuitos integrados
Inspección simplificada de diversas ubicaciones de chips