SolVision utiliza tecnología de aprendizaje profundo para una inspección mejorada de mascarillas quirúrgicas, asegurando una detección precisa de defectos y un mejor control de calidad.
El modelo de IA puede ser entrenado para detectar y localizar con precisión los defectos en el panel de yeso para mejorar la calidad del producto y el rendimiento de la producción.
Los wafers F0 defectuosos también suelen tener defectos sutiles dispersos aleatoriamente en la superficie, y esto impide que los sistemas de AOI establezcan reglas para inspecciones eficientes.
SolVision supera los desafíos en la inspección de soldadura láser con IA, lo que permite una detección precisa de defectos para mejorar el control de calidad de la soldadura láser.
El adhesivo excesivo puede permanecer en el chip o desbordarse en la placa de circuito y causar que el chip se incline, afectando la estabilidad de todo el paquete de semiconductores.
La tecnología de IA y OCR de F0 SolVision mejora la inspección del Número de Identificación de Neumáticos, mejorando la precisión, la eficiencia y el control de calidad en la producción de neumáticos.
A medida que la fabricación de semiconductores se vuelve más sofisticada, el proceso de creación de marcos de plomo necesita mejorar en precisión y rendimiento.
