半導体キャリアトレイの外観検査

キャリアトレイのアウトラインや位置決め穴は、生産温度や長期使用による欠けや反りなどの欠陥が生じやすいです。これらのトレイは従来の方法で検査されていましたが、その複雑な形式や不明瞭でランダムなトレイの欠陥のため、ルールベースのビジョンシステムを用いた視覚検査では、生産歩留まりや効率に問題が生じることがありました。