品質検査

  • Shelves of ribbon materials with varied patterns, textures, and colors used in fabric quality inspection.

    AIを活用したリボン品質検査向け布地欠陥検出

    あるリボンメーカーは、SolVisionを使用して、さまざまな色、柄、質感のリボンにある穴、結び目、糸切れを検査しました。AIベースの布地欠陥検出により、品質検査の一貫性向上と生産トレーサビリティを実現しました。

  • White pharmaceutical tablets prepared for AI tablet inspection during production quality control.

    医薬品の欠陥検出に向けたAI錠剤検査

    ある多国籍製薬企業は、SolVisionによるAI錠剤検査を導入し、形状、寸法、色、質感、刻印、表面品質の異常を検出しました。これにより目視検査の必要性を低減し、新たな欠陥タイプに応じたモデル更新が可能になりました。

  • Screenshot of SolVision AI inspection interface detecting contamination on a returnable glass bottle, with defects highlighted by bounding boxes.

    AIによるリターナブルガラス瓶検査

    SolVisionはAI画像検査を活用したリターナブルガラス瓶検査により、瓶の再利用工程における汚染を検出・分類する自動検査を実現します。

  • AI-based bottle cap inspection and OCR system verifying batch and date codes on aluminum caps in high-speed production lines.

    AIを活用したボトルキャップ検査

    SolVisionによるAIベースのボトルキャップ検査は、高速生産ラインにおいて反射性アルミキャップ上のロットコードや製造日をリアルタイムでOCR検査します。

  • SolVision AI inspection of safety-engineered needles showing conforming (OK) and non-conforming (NG) components.

    AIを活用した安全機構付き注射針の品質検査

    SolVision AIによる安全機構付き注射針の検査は、欠陥検出精度を向上させ、医療機器製造における品質管理を強化します。

  • META-aivi inspection detects wiring errors and verifies SOP compliance using AR overlays.

    AR + AIによる電気配線検査

    META-aiviはAR + AIを活用した電気配線検査により、リアルタイムで配線ミスを検出し、作業手順の標準化とSOP遵守の向上を実現します。

  • SolVision AI identifies surface defects on a drywall panel using bounding boxes to highlight scratches and physical damage during automated inspection.

    AIを活用した石膏ボードパネル検査

    SolVision AIによる石膏ボードパネル検査は、石膏ボード製造における汚れ、傷、エンボス不良を検出し、自動品質管理を実現します。

  • Close-up view of a precision machined component showing a localized surface defect highlighted with a circular detection marker.

    AIを活用した精密加工部品の欠陥検出

    SolVisionを活用したAIによる精密加工部品欠陥検出は、スクラッチ、加工痕、表面不良を高精度に検査します。

  • SolVision AI vision system applies segmentation masks to identify and highlight wafer surface defects during CMP quality inspection.

    CMP品質検査におけるAI活用

    SolVision AIによるCMP品質検査は、ウェハのスクラッチや異物汚染を高精度に検出し、半導体検査におけるルールベースAOIの限界を克服します。