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MLCC
積層陶瓷電容製程優化解決方案
SMD電容體積較小,觀察缺陷需在顯微鏡等級的微觀工具下觀察,且因MLCC非常脆弱,檢測過程也須非常小心,困難度極高。使用SolVision工具,學習電極上凸出部分的瑕疵形狀及位置,建立AI模型,在AI學習瑕疵特徵之後,即可快速檢測電容凸出部分的缺陷,大幅提升整體製程的良率。
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