欠点検出

  • black and white labeled box

    半導体ウェハのAI検査ソリューション

    SolVisionのAI検査ソリューションを使用して、細かい傷のような微小な欠陥をサンプル画像上で特定し、マークしてAIモデルをトレーニングすることができます。

  • Close-up Photography of a Power Tool

    金属プレス部品のAI検査

    プレス部品には多様な欠陥があり、それぞれの欠陥は毎回異なる形で現れることがあります。特に油染みや水染みは検出が難しいです。

  • Central Processor Of A Computer

    半導体パッケージングプロセスの検査

    SolVisionはAI画像解析を通じて視覚検査を可能にし、変位および角度情報の信頼性を強化することで、ダイボンディングプロセスにおける欠陥製品やエラーを認識します。

  • SMTはんだ付けにおけるショート回路の検出

    半導体はんだ付け接続のAI検査 AI検査 ゴールデンサンプル はんだボールのオーバーフロー はんだボールのオーバーフロー

  • person holding tool during daytime

    自動車の溶接ビードの外観検査

    AIを搭載したSolVisionディープラーニングソフトウェアは、ランダムな明るさの条件で潜在的な溶接ビード欠陥をシミュレーションすることでAIモデルをトレーニングします。

  • a group of square objects

    半導体ウェーハ検査の自動化

    欠陥のあるウェーハは通常、表面にランダムに散在する微細な欠陥を持っており、これがAOIシステムによる効率的な検査のためのルール設定を困難にします。

  • アルミ製品のパッケージ検査

    人工知能を活用したSolVisionは、生産の不一致を検出するための視覚検査を自動化します。リアルタイムの製品画像をゴールデンサンプルと比較することによって。

  • a close-up of a machine

    AIを使用したレーザー溶接欠陥検出

    SolVisionは、レーザー溶接検査における課題をAIで克服し、正確な欠陥検出を可能にすることでレーザー溶接の品質管理を向上させます。

  • 半導体の接着欠陥の検出

    過剰な接着剤がチップに残ったり、回路基板に溢れ出たりして、チップが傾くことがあり、半導体パッケージ全体の安定性に影響を与える可能性があります。