欠点検出

半導体リードフレームのAI欠陥検出 AI検査 ゴールデンサンプル 黒い斑点と突起したエッジ

AIビジョン技術を通じて、紡績糸巻き上の製品に欠陥があるかどうかを迅速に検出し、生産ラインの生産性を向上させます。

ディープラーニングを活用したSolVision AIは、サンプル画像のラベリングを通じて、重なったボールグリッドアレイのはんだ付け欠陥を認識します。

SolVisionは、画像処理を通じてアルミニウムPCBA上の最小の欠陥や生産異常を特定および認識できます。

最適化のジレンマ：大量の欠陥 ハードドライブの金属ベースは、製造中に金属表面の損傷から形状やサイズの不正確さまで、さまざまな欠陥に見舞われやすいです。

SolVisionのインスタンスセグメンテーションツールを使用すると、キャリアトレイ上のチップのさまざまな配置の可能性をAI画像処理で学習できます。

小さならせん状金属部品は、SolVisionのインスタンスセグメンテーションツールを使用して、サンプル画像から切削マークや衝突による欠陥の異なるタイプを学習し、その後AIモデルを構築してこれら微妙な欠陥を認識することができます。

SolVisionは、受動電子部品の欠陥電極を検出し、全体的な生産歩留まりを大幅に向上させます。

人工知能による自動欠陥検出。半導体キャリアトレイの視覚検査。